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探測(cè)器設(shè)備外殼防護(hù)等級(jí)測(cè)試試驗(yàn)是評(píng)估設(shè)備外殼防護(hù)能力的關(guān)鍵步驟之一。在現(xiàn)代工業(yè)與科技發(fā)展中,各種探測(cè)器設(shè)備被廣泛應(yīng)用于不同的環(huán)境和條件下,其外殼的防護(hù)等級(jí)直接影響設(shè)備的可靠性和安全性。 所謂外殼防護(hù)等級(jí),是指設(shè)備外殼對(duì)…